メモリLSIの評価を完了し、装置に搭載したところ、アクセスタイム不良が発生した。調査したところ、図のように、書き込みパルス位相に対して、メモリセル電位が十分に立ち上がらず、データが遅れて出力される異常が生じていることがわかった。LSIの単体テストにおいて、使用する装置のタイミングを考慮したチェックを行うべきであった。
